Введение в сканирующий электронный микроскоп
Растровый электронный микроскоп (растровый электронный микроскоп, SEM) - это крупномасштабный прецизионный прибор, используемый для микротопографического анализа с высоким разрешением. Он обладает такими характеристиками, как большая глубина резкости, высокое разрешение, интуитивно понятное отображение, сильное трехмерное восприятие, широкий диапазон увеличения, а тестируемый образец можно вращать и наклонять в трехмерном пространстве.